任务四04 TOFD工艺参数--增益设置与校准方法的选择
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l TOFD检测的定量是不依靠信号波幅的，但系统增益的设置会影响检测的可靠性
l 增益过低缺陷的衍射信号过于微弱，就不能被接收和观察到
l 增益过高也会影响图像的观察、信号的识别和测量，同样影响缺陷的检出
目录
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1 现代先进检测技术
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1.1 现场示范教学视频
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1.2 说课视频
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1.3 微课视频
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1.4 典型案例
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1.5 课程相关文书
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1.6 课件
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2 TOFD检测发展
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2.1 任务一 01 TOFD检测概述
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2.2 任务一02 衍射
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2.3 任务一 03 TOFD基本原理
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2.4 任务一 04 TOFD的A扫信号
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2.5 作业一
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3 TOFD检测探头
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3.1 任务二 01 TOFD主要采用纵波检测
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3.2 任务二 02 TOFD采用双探头检测
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3.3 任务二 03 TOFD探头特点
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3.4 任务二 04 灰度图
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3.5 作业二
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4 检测探头——选检测探头
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4.1 任务二 05 相位关系
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4.2 任务二 06 TOFD基本扫查类型
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4.3 任务二 07 深度计算
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4.4 任务二 08 深度校准
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4.5 作业三
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5 TOFD检测PCS
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5.1 任务三 01 PCS
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5.2 任务三 02 TOFD检测的盲区概述
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5.3 任务三 03 信号位置测量
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5.4 任务三 04TOFD优点和局限性
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6 典型参数设置
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6.1 任务三05 典型的TOFD图像
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6.2 任务三06 脉冲重复频率
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6.3 任务三07 TOFD探头
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6.4 任务三08 TOFD试块
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6.5 作业五
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7 盲区及多通道
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7.1 任务三09 TOFD盲区拓展知识
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7.2 任务三10 TOFD测量的精度
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7.3 任务三11 TOFD多通道检测
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7.4 任务三 12TOFD检测的主要步骤
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7.5 作业六
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8 工艺参数
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8.1 任务四01 TOFD工艺参数--探头和扫查次数的选择
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8.2 任务四02 声场分布和半扩散角
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8.3 任务四03 TOFD工艺参数--PCS的选择
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8.4 任务四04 TOFD工艺参数--增益设置与校准方法的选择
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8.5 作业七
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9 成像参数
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9.1 任务四05 其它工艺参数的影响
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9.2 任务四06 减少盲区的工艺措施
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9.3 任务四07 TOFD扫查过程
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9.4 任务四08 成像合格的TOFD图像
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10 图像分析
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10.1 任务01 五信号的处理与分析
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10.2 任务五02 用于缺陷定位和定量的曲线拟合指针
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10.3 任务五03 线分析与离线分析
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10.4 任务五04 TOFD评图概述
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11 评图（上）
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11.1 任务五05 TOFD评图--上表面开口缺陷信号特征
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11.2 任务五06 TOFD评图--下表面开口缺陷信号特征
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11.3 任务五07 TOFD评图--贯穿性缺陷信号特征
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11.4 任务五08 TOFD评图--埋藏的点状缺陷信号特征
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12 评图（下）
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12.1 任务五09 TOFD评图--埋藏的没有自身高度和有自身高度缺陷信号特征
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12.2 任务五10 TOFD评图--焊缝根部缺陷和形状缺陷信号特征
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12.3 任务五11 TOFD评图--横波和波型转换信号的识别
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12.4 任务五12 TOFD评图--平行扫查时近表面存在缺陷信号特征
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13 工程应用
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13.1 01TOFD评图--缺陷定位定量进阶
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13.2 02 工程应用--电动扫查器
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13.3 03 环缝带转轮器检测
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13.4 04 通道自动扫查器
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14 应用案例
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14.1 01 TOFD滤除直通波检测数据
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14.2 02工程应用--某电站建设TOFD应用
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14.3 03工程应用--球罐焊缝TOFD检测
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14.4 04 工程应用--一些TOFD应用现场
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15 现代先进检测技术-相控阵检测
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15.1 相控阵中文概述
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15.2 相控阵在工业领域应用的基本理论
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15.3 相控阵超声检测步骤
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15.4 超声相控阵检测试块的要求和应用
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15.5 合成孔径(SAFT)全聚焦相控阵检测
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