任务四05 其它工艺参数的影响
上一节
下一节
温度
l 使用常规探头和普通耦合剂，检测时工件表面的温度应该在0~50℃之间
l 使用适当的耦合剂，可以在150 ℃高温下进行TOFD检测
l 当温度更高时，探头、楔块、电缆必须进行冷却保护仪器，还应使用适当的屏蔽或隔热物
目录
-
1 现代先进检测技术
-
1.1 现场示范教学视频
-
1.2 说课视频
-
1.3 微课视频
-
1.4 典型案例
-
1.5 课程相关文书
-
1.6 课件
-
-
2 TOFD检测发展
-
2.1 任务一 01 TOFD检测概述
-
2.2 任务一02 衍射
-
2.3 任务一 03 TOFD基本原理
-
2.4 任务一 04 TOFD的A扫信号
-
2.5 作业一
-
-
3 TOFD检测探头
-
3.1 任务二 01 TOFD主要采用纵波检测
-
3.2 任务二 02 TOFD采用双探头检测
-
3.3 任务二 03 TOFD探头特点
-
3.4 任务二 04 灰度图
-
3.5 作业二
-
-
4 检测探头——选检测探头
-
4.1 任务二 05 相位关系
-
4.2 任务二 06 TOFD基本扫查类型
-
4.3 任务二 07 深度计算
-
4.4 任务二 08 深度校准
-
4.5 作业三
-
-
5 TOFD检测PCS
-
5.1 任务三 01 PCS
-
5.2 任务三 02 TOFD检测的盲区概述
-
5.3 任务三 03 信号位置测量
-
5.4 任务三 04TOFD优点和局限性
-
-
6 典型参数设置
-
6.1 任务三05 典型的TOFD图像
-
6.2 任务三06 脉冲重复频率
-
6.3 任务三07 TOFD探头
-
6.4 任务三08 TOFD试块
-
6.5 作业五
-
-
7 盲区及多通道
-
7.1 任务三09 TOFD盲区拓展知识
-
7.2 任务三10 TOFD测量的精度
-
7.3 任务三11 TOFD多通道检测
-
7.4 任务三 12TOFD检测的主要步骤
-
7.5 作业六
-
-
8 工艺参数
-
8.1 任务四01 TOFD工艺参数--探头和扫查次数的选择
-
8.2 任务四02 声场分布和半扩散角
-
8.3 任务四03 TOFD工艺参数--PCS的选择
-
8.4 任务四04 TOFD工艺参数--增益设置与校准方法的选择
-
8.5 作业七
-
-
9 成像参数
-
9.1 任务四05 其它工艺参数的影响
-
9.2 任务四06 减少盲区的工艺措施
-
9.3 任务四07 TOFD扫查过程
-
9.4 任务四08 成像合格的TOFD图像
-
-
10 图像分析
-
10.1 任务01 五信号的处理与分析
-
10.2 任务五02 用于缺陷定位和定量的曲线拟合指针
-
10.3 任务五03 线分析与离线分析
-
10.4 任务五04 TOFD评图概述
-
-
11 评图（上）
-
11.1 任务五05 TOFD评图--上表面开口缺陷信号特征
-
11.2 任务五06 TOFD评图--下表面开口缺陷信号特征
-
11.3 任务五07 TOFD评图--贯穿性缺陷信号特征
-
11.4 任务五08 TOFD评图--埋藏的点状缺陷信号特征
-
-
12 评图（下）
-
12.1 任务五09 TOFD评图--埋藏的没有自身高度和有自身高度缺陷信号特征
-
12.2 任务五10 TOFD评图--焊缝根部缺陷和形状缺陷信号特征
-
12.3 任务五11 TOFD评图--横波和波型转换信号的识别
-
12.4 任务五12 TOFD评图--平行扫查时近表面存在缺陷信号特征
-
-
13 工程应用
-
13.1 01TOFD评图--缺陷定位定量进阶
-
13.2 02 工程应用--电动扫查器
-
13.3 03 环缝带转轮器检测
-
13.4 04 通道自动扫查器
-
-
14 应用案例
-
14.1 01 TOFD滤除直通波检测数据
-
14.2 02工程应用--某电站建设TOFD应用
-
14.3 03工程应用--球罐焊缝TOFD检测
-
14.4 04 工程应用--一些TOFD应用现场
-
-
15 现代先进检测技术-相控阵检测
-
15.1 相控阵中文概述
-
15.2 相控阵在工业领域应用的基本理论
-
15.3 相控阵超声检测步骤
-
15.4 超声相控阵检测试块的要求和应用
-
15.5 合成孔径(SAFT)全聚焦相控阵检测
-
