射线检测

敖波

目录

  • 2 射线与物质的相互作用
    • 2.1 反应截面
    • 2.2 X射线和r射线与物质的相互作用
    • 2.3 X, γ射线强度衰减规律
    • 2.4 带电粒子与物质的相互作用
    • 2.5 中子射线与物质的相互作用
  • 1 绪论
    • 1.1 绪论
  • 3 射线探测及器件
    • 3.1 气体探测器、闪烁探测器、半导体探测器
    • 3.2 工业射线胶片与增感屏
    • 3.3 IP成像板
    • 3.4 数字探测器阵列
  • 4 射线照相检测技术
    • 4.1 射线照相法原理
    • 4.2 射线照相检测设备
    • 4.3 影像质量及评价
    • 4.4 透照布置与工艺参数选择
    • 4.5 曝光曲线的分类与使用
    • 4.6 散射线控制
    • 4.7 典型工件射线检测
    • 4.8 暗室处理
    • 4.9 评片技术
    • 4.10 典型工件射线检测工艺设计
  • 5 射线数字成像检测技术
    • 5.1 射线DR成像工艺基础
    • 5.2 射线DR成像工艺
    • 5.3 射线DR成像工业应用
  • 6 射线CR与工业CT技术
    • 6.1 射线CR成像
      • 6.1.1 射线CR技术基础
      • 6.1.2 射线CR检测工艺
      • 6.1.3 射线CR工业应用
    • 6.2 工业CT
      • 6.2.1 工业CT原理
      • 6.2.2 工业CT应用
  • 7 其他射线检测技术
    • 7.1 中子射线照相检测技术
    • 7.2 高能X射线照相技术
    • 7.3 康普顿背散射成像技术
    • 7.4 同步辐射成像(选读)
  • 8 辐射防护
    • 8.1 辐射量及其单位
    • 8.2 辐射生物效应及危害
    • 8.3 辐射防护方法与计算
    • 8.4 辐射防护管理
  • 9 射线检测技术标准介绍
    • 9.1 射线检测标准介绍
  • 10 射线检测的质量管理
    • 10.1 射线检测的质量管理
反应截面