射线检测

徐敬岗

目录

  • 1 物理基础
    • 1.1 原子结构
    • 1.2 X射线
      • 1.2.1 X射线的产生
      • 1.2.2 X射线谱
    • 1.3 γ 射线
    • 1.4 射线与物质的相互作用
    • 1.5 射线的衰减规律
    • 1.6 射线的原理与特点
  • 2 设备器材
    • 2.1 X射线探伤设备
      • 2.1.1 X射线机
      • 2.1.2 X射线管
    • 2.2 γ 射线探伤设备
    • 2.3 射线胶片
      • 2.3.1 射线胶片的基本知识
      • 2.3.2 射线胶片的特性
    • 2.4 辅助器材
  • 3 质量因素
    • 3.1 射线照相灵敏度的影响因素
    • 3.2 对比度
    • 3.3 清晰度
    • 3.4 颗粒度
  • 4 射线检测基本技术
    • 4.1 透照参数的选择
      • 4.1.1 射线源和能量的选择
      • 4.1.2 焦距的选择
      • 4.1.3 曝光量的选择与修正
    • 4.2 透照方式的选择
    • 4.3 一次透照长度的计算
    • 4.4 曝光曲线
    • 4.5 散射线的控制
    • 4.6 大厚度比试件透照技术
    • 4.7 小径管透照技术与工艺
  • 5 典型工件射线照相技术
    • 5.1 平板对接焊接接头射线检测
    • 5.2 小径管对接焊接接头射线检测
  • 6 暗室处理技术
    • 6.1 暗室设备器材
    • 6.2 药液配制
    • 6.3 胶片暗室处理技术
  • 7 底片评定
    • 7.1 评片的基本知识
    • 7.2 焊接的基本知识
    • 7.3 底片影像分析要点
    • 7.4 缺陷影像的识别
    • 7.5 焊接接头质量等级评定
  • 8 辐射防护
    • 8.1 常用辐射量
    • 8.2 辐射防护监测
    • 8.3 辐射防护的相关知识
    • 8.4 辐射防护的方法和计算
  • 9 质量管理
    • 9.1 射线检测质量管理
射线照相灵敏度的影响因素