集成电路测试技术

田师艺、丁云帅

目录

  • 1 测试开发导论
    • 1.1 课程简介
    • 1.2 半导体产业链简介
    • 1.3 数据手册识读引导及测试机简介（代表性授课1）
    • 1.4 章节测试
  • 2 分立器件测试
    • 2.1 电阻的测试
    • 2.2 VI源及开尔文测试（代表性授课2）
    • 2.3 测试软件的应用-工程（代表性授课3）
    • 2.4 课后练习
  • 3 二极管测试
    • 3.1 二极管的测试
    • 3.2 二极管正向导通压降VF
    • 3.3 二极管反向电流IR
    • 3.4 课后练习
  • 4 三极管测试
    • 4.1 三极管介绍
    • 4.2 截止电流IB、IC
    • 4.3 导通饱和电压VCE、VBE
    • 4.4 击穿电压VCE、VCB、VEB
    • 4.5 电流方大倍数hFE
    • 4.6 课后练习
  • 5 MOS管测试
    • 5.1 MOS管介绍
    • 5.2 阈值电压Vth
    • 5.3 漏-源极击穿电压
    • 5.4 短路电流IDSS、IGSS
    • 5.5 导通时漏源间的电压、电流、阻抗
    • 5.6 课后练习
  • 6 附录
    • 6.1 软件硬件使用维护手册
    • 6.2 TTL联机说明
    • 6.3 T862H测试系统硬件维护
截止电流IB、IC