1.与非门的逻辑功能测试

用集成电路74LS00的与非门进行测试。在A、B端按表中的要求输入不同的电平，测试并记录与非门输出端的逻辑状态。

2.或门的逻辑功能测试

用集成电路74LS32的或门进行测试。在A、B端按表中的要求输入不同的电平，测试并记录或

门输出端的逻辑状态。

2.用与非门组成其它逻辑门电路

（1）用与非门组成与门

在集成电路74LS00中选取两个与非门，按下图方式连接电路，在A、B端按表中的要求依次输入电平，测试并记录电路输出端的逻辑状态。分析数据，判断输入输出端的逻辑关系。

（2）用与非门组成异或门

用集成电路74LS00设计异或门，在A、B端按表中的要求依次输入电平，测试并记录电路输出端的逻辑状态。

实验要求：用逻辑门设计一个三人表决电路，要求：两人以上同意即为通过，否则为不通过。用74LS00和74LS10设计一个具有上述控制功能的逻辑电路。