数字系统测试与可测性设计

张颖

目录

  • 1 数字集成电路测试的基本概念
    • 1.1 VLSI技术的发展对测试的影响
    • 1.2 VLSI的测试过程和测试设备
    • 1.3 数字系统测试与可测性技术的发展概况
    • 1.4 第1章课件
  • 2 电路与故障模型
    • 2.1 数字电路的逻辑级模型、寄存器级模型与结构级模型
    • 2.2 故障模型的基本概念与单固定型故障模型
    • 2.3 故障化简
    • 2.4 晶体管级故障模型
    • 2.5 第2章课件
  • 3 逻辑仿真与故障仿真
    • 3.1 逻辑仿真的基本概念和类型
    • 3.2 常用故障仿真技术
    • 3.3 基于FPGA的设计仿真
    • 3.4 基于ATPG工具的故障仿真
    • 3.5 第3章课件
  • 4 组合电路测试与算法
    • 4.1 组合电路测试方法
    • 4.2 重要的组合ATPG算法——D算法
    • 4.3 重要的组合ATPG算法——PODEM算法
    • 4.4 其他测试方法
    • 4.5 第4章课件
  • 5 专用DFT和扫描设计
    • 5.1 SCOAP可测性度量
    • 5.2 专用可测性设计方法
    • 5.3 扫描设计和部分扫描技术
    • 5.4 扫描路径的测试方法
    • 5.5 基于EDA工具的扫描综合
    • 5.6 第5章课件
  • 6 边界扫描设计
    • 6.1 边界扫描标准的目的和意义
    • 6.2 边界扫描的系统结构和指令
    • 6.3 边界扫描描述语言
    • 6.4 边界扫描设计的应用实例
    • 6.5 第6章课件
  • 7 随机与伪随机测试
    • 7.1 随机测试与测试图形长度的计算
    • 7.2 随机测试中输入变量的优化
    • 7.3 伪随机序列及其相关概念
    • 7.4 伪随机序列生成
    • 7.5 第7章课件
  • 8 内建自测试技术
    • 8.1 内建自测试的基本概念
    • 8.2 测试响应压缩与特征分析法
    • 8.3 内建自测试的结构与测试生成
    • 8.4 第8章课件
  • 9 存储器和SOC测试
    • 9.1 存储器测试
    • 9.2 SOC测试
重要的组合ATPG算法——D算法