氧化膜厚度的测量(4学时)
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实验要求
1、所有进入实验室的同学必须事先预习整个实验的材料,并撰写完成实验报告理论部分,带到实验室备查;
2、三人一组,同学间应完成相互讲解提问,没有疑问后再行进入实验室;
3、测量前先使用比色法对薄膜的厚度进行预估;
3、每组需要测量3片不同的硅片,每个硅片至少测量3个不同位置的点位,每个点位测量3次求平均值。
4、利用椭偏法得到的结果与比色法得到的结果进行比较,并进行实验结果的分析。
椭偏仪原理

