晶体光学及光性矿物学

余淳梅

目录

  • 1 晶体光学基础原理
    • 1.1 光学基础知识
    • 1.2 光率体
  • 2 偏光显微镜
    • 2.1 偏光显微镜装置
  • 3 单偏光镜下晶体光学性质
    • 3.1 装置及镜下特征
  • 4 正偏光镜下的晶体光学性质
    • 4.1 装置及镜下特征（一）
    • 4.2 镜下特征（二）
  • 5 锥偏光镜下的晶体光学性质
    • 5.1 一轴晶干涉图
    • 5.2 二轴晶干涉图
  • 6 透明矿物晶体光学系统鉴定
    • 6.1 系统鉴定程序与内容
  • 7 透明造岩矿物及宝石的油浸法研究
    • 7.1 自学
  • 8 宝玉石晶体光学鉴定的其他方法
    • 8.1 自学
  • 9 显微镜下矿片厚度、矿物粒度与含量的测定
    • 9.1 自学
  • 10 结晶岩中最常见的六族矿物
    • 10.1 硅酸盐矿物
一轴晶干涉图

    一、锥偏光镜装置及特点

    装置，高倍聚光镜、高倍物镜、勃氏镜的作用。

  二、一轴晶干涉图

  ⊥OA切面干涉图的图像特征、成因（一般了解）及应用；

  ∥OA切面干涉图的图像特征及应用；

  斜交OA切面干涉图的图像及应用（一般掌握）。