目录

  • 1 晶体光学基础原理
    • 1.1 光学基础知识
    • 1.2 光率体
  • 2 偏光显微镜
    • 2.1 偏光显微镜装置
  • 3 单偏光镜下晶体光学性质
    • 3.1 装置及镜下特征
  • 4 正偏光镜下的晶体光学性质
    • 4.1 装置及镜下特征(一)
    • 4.2 镜下特征(二)
  • 5 锥偏光镜下的晶体光学性质
    • 5.1 一轴晶干涉图
    • 5.2 二轴晶干涉图
  • 6 透明矿物晶体光学系统鉴定
    • 6.1 系统鉴定程序与内容
  • 7 透明造岩矿物及宝石的油浸法研究
    • 7.1 自学
  • 8 宝玉石晶体光学鉴定的其他方法
    • 8.1 自学
  • 9 显微镜下矿片厚度、矿物粒度与含量的测定
    • 9.1 自学
  • 10 结晶岩中最常见的六族矿物
    • 10.1 硅酸盐矿物
镜下特征(二)

    五、补色法则和补色器

    补色法则;云母试板和石膏试板

六、正交镜下晶体光学性质的测定

光率体椭圆半径方位和名称的测定;

最高干涉色和最大双折射率的测定;

多色性公式、吸收性公式的测定;

消光类型、消光角的测定;延性、延性符号的测定;

双晶纹、双晶类型及双晶的观察。

   重点:干涉色及正常干涉色级序、补色法则、云母试板和石膏试板的用途、最高干涉色和最大双折射率的测定、消光类型、延性的测定、双晶的观察。