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1 概述
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1.1 研究意义
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1.2 电路测试与可测性设计技术的发展
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1.3 基本概念
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1.4 第1章 PPT
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2 电路测试基础
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2.1 验证、模拟和测试
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2.2 故障及故障检测
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2.3 缺陷、失效和故障
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2.4 经典故障模型
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2.5 故障的等效、支配和故障冗余
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2.6 第2章 PPT
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3 验证、模拟和仿真
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3.1 验证与模拟
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3.2 基于Testbench的验证
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3.3 逻辑模拟
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3.4 故障模拟
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3.5 基于ATPG工具的模拟
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3.6 第3章 PPT
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4 自动测试生成(ATPG)
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4.1 简介
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4.2 代数法
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4.3 路径敏化法
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4.4 D算法
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4.5 第4章 PPT
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5 专用可测性设计
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5.1 可测性分析
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5.2 可测性的改善方法
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5.3 测试图形简化
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5.4 容易测试的电路
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5.5 组合电路的可测性设计
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5.6 第5章 PPT
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6 扫描设计
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6.1 扫描路径设计
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6.2 扫描路径的测试方法
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6.3 扫描单元的设计
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6.4 基于EDA工具的扫描综合
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6.5 第6章 PPT
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7 边界扫描法
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7.1 边界扫描法的基本结构
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7.2 TAP控制器
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7.3 指令
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7.4 边界扫描描述语言
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7.5 板级测试举例
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7.6 第7章 PPT
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8 随机测试和伪随机测试
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8.1 随机测试
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8.2 伪随机序列
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8.3 LFSR的数学基础
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8.4 基本的伪随机测试序列生成电路
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8.5 第8章PPT
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9 内建自测试
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9.1 内建自测试的概念
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9.2 响应数据压缩
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9.3 特征分析法
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9.4 内建自测试的结构
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9.5 第9章PPT
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