目录

  • 1 概述
    • 1.1 研究意义
    • 1.2 电路测试与可测性设计技术的发展
    • 1.3 基本概念
    • 1.4 第1章 PPT
  • 2 电路测试基础
    • 2.1 验证、模拟和测试
    • 2.2 故障及故障检测
    • 2.3 缺陷、失效和故障
    • 2.4 经典故障模型
    • 2.5 故障的等效、支配和故障冗余
    • 2.6 第2章 PPT
  • 3 验证、模拟和仿真
    • 3.1 验证与模拟
    • 3.2 基于Testbench的验证
    • 3.3 逻辑模拟
    • 3.4 故障模拟
    • 3.5 基于ATPG工具的模拟
    • 3.6 第3章 PPT
  • 4 自动测试生成(ATPG)
    • 4.1 简介
    • 4.2 代数法
    • 4.3 路径敏化法
    • 4.4 D算法
    • 4.5 第4章 PPT
  • 5 专用可测性设计
    • 5.1 可测性分析
    • 5.2 可测性的改善方法
    • 5.3 测试图形简化
    • 5.4 容易测试的电路
    • 5.5 组合电路的可测性设计
    • 5.6 第5章 PPT
  • 6 扫描设计
    • 6.1 扫描路径设计
    • 6.2 扫描路径的测试方法
    • 6.3 扫描单元的设计
    • 6.4 基于EDA工具的扫描综合
    • 6.5 第6章 PPT
  • 7 边界扫描法
    • 7.1 边界扫描法的基本结构
    • 7.2 TAP控制器
    • 7.3 指令
    • 7.4 边界扫描描述语言
    • 7.5 板级测试举例
    • 7.6 第7章 PPT
  • 8 随机测试和伪随机测试
    • 8.1 随机测试
    • 8.2 伪随机序列
    • 8.3 LFSR的数学基础
    • 8.4 基本的伪随机测试序列生成电路
    • 8.5 第8章PPT
  • 9 内建自测试
    • 9.1 内建自测试的概念
    • 9.2 响应数据压缩
    • 9.3 特征分析法
    • 9.4 内建自测试的结构
    • 9.5 第9章PPT
第7章 PPT