半导体器件与集成电路实验

唐春晓、马慧莉

目录

  • 1 理论教学1
    • 1.1 第一课时
  • 2 实验一:硅缺陷显示与观察
    • 2.1 第一课时
  • 3 实验二:p-n结电容的测量
    • 3.1 第一课时
  • 4 实验三:用图示仪检测双极型晶体管
    • 4.1 第一课时
  • 5 实验四:晶体管hFE随注入电流变化测试
    • 5.1 第一课时
  • 6 实验五:用图示仪检测场效应晶体管
    • 6.1 第一课时
  • 7 实验六:TTL与非门电路的模拟与测试
    • 7.1 第一课时
  • 8 实验七:TTL与非门电路输入输出特性测试
    • 8.1 第一课时
  • 9 实验八:CMOS集成电路直流参数测试
    • 9.1 第一课时
  • 10 实验九:CMOS集成电路动态参数测试
    • 10.1 第一课时
  • 11 实验十:集成运算放大器参数的测量
    • 11.1 第一课时
第一课时

实验八 教学指导书:

 

实验八 讲解视频:

 

注:因课程教学计划变动,视频中实验序号可能与本网页有所区别,请忽略这一问题。

面包板使用讲解视频:

 

直流稳压电源使用讲解视频:

 


 万用表使用讲解视频: