第十六章 其它显微分析方法简介
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§1 离子探针
§2 低能电子衍射
§3 俄歇电子能谱仪
§4 场离子显微镜
§5 扫描隧道显微镜（STM）与原子力显微镜（AFM）
§6 X射线光电子能谱仪
以上几种分析方法的基本原理、仪器结构、定性和定量分析等应用。
尹燕
目录
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1 第1课时：绪论
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1.1 材料分析方法的主要内容
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1.2 本课程的内容及学习本课程的基本要求
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1.3 主要参考资料
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2 第2课时 第一章 X射线的物理学基础
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2.1 1.1 X射线的性质
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2.2 1.2 X射线的产生X射线谱
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3 第3课时
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3.1 1.3 X射线与物质的相互作用
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4 第4课时 第二章 X射线衍射方向
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4.1 2.1 晶体几何学基础
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4.2 2.2 衍射的概念与布拉格方程
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5 第5课时
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5.1 2.3 衍射方法
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5.2 第三章 X射线的衍射强度3.1 多晶体衍射图相的形成
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5.3 3.2 结构因数
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6 第6课时
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6.1 续3.2 结构因数
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7 第7课时
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7.1 3.3 洛仑兹因数
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7.2 3.4 影响衍射强度的其它因数
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7.3 3.5 多晶体衍射的积分强度公式
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8 第8课时
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8.1 第四章 多晶体分析方法 4.1德拜-谢乐法
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8.2 4.2 其它照相法简介
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9 第9课时
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9.1 4.3 X射线衍射仪法
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10 第10 课时
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10.1 第五章 物相分析及点阵常数的精确测定 5.1 物相定性分析
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11 第11 课时
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11.1 5.2 物相定量分析
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12 第12课时
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12.1 5.3点阵常数的精确测定
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12.2 5.4非晶态物质及其晶化过程中的XRD分析
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13 第13课时
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13.1 第八章 电子光学基础 8.1 电子波与电磁透镜
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13.2 8.2 电磁透镜的像差和分辨本领
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13.3 8.3 电磁透镜的景深和焦长
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14 第14课时
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14.1 第九章 透射电子显微镜 9.1 透射电子显微镜的结构与成像原理
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14.2 9.2 主要部件的结构与工作原理
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14.3 9.3 透射电子显微镜分辨本领和放大倍数测定
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15 第15课时
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15.1 第十章 电子衍射 10.1 倒易点阵及爱瓦尔德球图解法
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15.2 10. 2 零层倒易截面及单晶体电子衍射花样的获得
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16 第16课时
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16.1 续10.2
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17 第17课时
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17.1 10.3 TEM中的电子衍射
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17.2 10.4 单晶电子衍射花样的标定
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18 第18课时
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18.1 第十一章 晶体薄膜衍衬成像分析 11.1 薄膜样品的制备
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18.2 11.2 衍射衬度成像原理
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19 第19课时
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19.1 11.4 消光距离
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20 第20课时
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20.1 11.7 晶体缺陷分析
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21 第21课时
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21.1 第十三章 扫描电子显微镜 13.1 电子束与固体样品作用时产生的信号
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21.2 13.2 扫描电子显微镜的构造和工作原理
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22 第22课时
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22.1 13.3 扫描电子显微镜的主要性能
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22.2 13.4 表面形貌衬度原理及其应用
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22.3 13.5 原子序数衬度原理及其应用
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23 第23课时
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23.1 第十五章 电子探针显微分析 15.1 电子探针仪的结构与工作原理
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23.2 15.2 电子探针仪的分析方法及应用
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24 第24课时
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24.1 第十六章 其它显微分析方法简介
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25 第25课时
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25.1 总复习
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