材料分析方法A

尹燕

目录

  • 1 第1课时：绪论
    • 1.1 材料分析方法的主要内容
    • 1.2 本课程的内容及学习本课程的基本要求
    • 1.3 主要参考资料
  • 2 第2课时 第一章 X射线的物理学基础
    • 2.1 1.1 X射线的性质
    • 2.2 1.2 X射线的产生X射线谱
  • 3 第3课时
    • 3.1 1.3 X射线与物质的相互作用
  • 4 第4课时 第二章 X射线衍射方向
    • 4.1 2.1  晶体几何学基础
    • 4.2 2.2  衍射的概念与布拉格方程
  • 5 第5课时
    • 5.1 2.3 衍射方法
    • 5.2 第三章  X射线的衍射强度3.1   多晶体衍射图相的形成
    • 5.3 3.2  结构因数
  • 6 第6课时
    • 6.1 续3.2  结构因数
  • 7 第7课时
    • 7.1 3.3   洛仑兹因数
    • 7.2 3.4   影响衍射强度的其它因数
    • 7.3 3.5   多晶体衍射的积分强度公式
  • 8 第8课时
    • 8.1 第四章 多晶体分析方法 4.1德拜-谢乐法
    • 8.2 4.2 其它照相法简介
  • 9 第9课时
    • 9.1 4.3 X射线衍射仪法
  • 10 第10 课时
    • 10.1 第五章  物相分析及点阵常数的精确测定 5.1  物相定性分析
  • 11 第11 课时
    • 11.1 5.2  物相定量分析
  • 12 第12课时
    • 12.1 5.3点阵常数的精确测定
    • 12.2 5.4非晶态物质及其晶化过程中的XRD分析
  • 13 第13课时
    • 13.1 第八章  电子光学基础 8.1  电子波与电磁透镜
    • 13.2 8.2  电磁透镜的像差和分辨本领
    • 13.3 8.3  电磁透镜的景深和焦长
  • 14 第14课时
    • 14.1 第九章 透射电子显微镜 9.1  透射电子显微镜的结构与成像原理
    • 14.2 9.2  主要部件的结构与工作原理
    • 14.3 9.3  透射电子显微镜分辨本领和放大倍数测定
  • 15 第15课时
    • 15.1 第十章 电子衍射 10.1  倒易点阵及爱瓦尔德球图解法
    • 15.2 10. 2   零层倒易截面及单晶体电子衍射花样的获得
  • 16 第16课时
    • 16.1 续10.2
  • 17 第17课时
    • 17.1 10.3  TEM中的电子衍射
    • 17.2 10.4 单晶电子衍射花样的标定
  • 18 第18课时
    • 18.1 第十一章 晶体薄膜衍衬成像分析  11.1  薄膜样品的制备
    • 18.2 11.2  衍射衬度成像原理
  • 19 第19课时
    • 19.1 11.4  消光距离
      • 19.1.1 11.5  衍射运动学简介
  • 20 第20课时
    • 20.1 11.7  晶体缺陷分析
  • 21 第21课时
    • 21.1 第十三章 扫描电子显微镜 13.1  电子束与固体样品作用时产生的信号
    • 21.2 13.2  扫描电子显微镜的构造和工作原理
  • 22 第22课时
    • 22.1 13.3  扫描电子显微镜的主要性能
    • 22.2 13.4  表面形貌衬度原理及其应用
    • 22.3 13.5 原子序数衬度原理及其应用
  • 23 第23课时
    • 23.1 第十五章  电子探针显微分析 15.1   电子探针仪的结构与工作原理
    • 23.2 15.2   电子探针仪的分析方法及应用
  • 24 第24课时
    • 24.1 第十六章   其它显微分析方法简介
  • 25 第25课时
    • 25.1 总复习
材料分析方法的主要内容

绪       论

1.材料的组织结构与性能的关系

2.材料测试技术与研究方法的内涵

3.材料测试技术与研究方法的主要类型

4.材料测试技术与研究方法的一般原理  

5.材料结构及其层次

6.各种材料现代分析方法概述