8.1 原子力显微镜的工作原理

原子力显微镜（atomic force microscope，AFM）。AFM可以得到对应于物质表面总电子密度的形貌，解决了扫描隧道显微镜（STM）不能观测非导电样品的缺欠。它用一个微小的探针探索世界，与光学显微镜和电子显微镜明显不同，它超越了光和电子波长对显微镜分辨率的限制，在立体三维上观察物质的形貌，并能获得探针与样品相互作用的信息。