目录

  • 1 绪论
    • 1.1 绪论
    • 1.2 PPT视频课件
  • 2 X射线物理学基础
    • 2.1 X射线的本质
    • 2.2 X射线的产生
    • 2.3 X射线谱
    • 2.4 X射线与物质相互作用
    • 2.5 X射线的防护
    • 2.6 PPT视频课件
  • 3 X射线在晶体中的衍射
    • 3.1 X射线衍射的概念
    • 3.2 X射线衍射的条件和方向
    • 3.3 PPT视频课件
  • 4 X射线衍射方法
    • 4.1 X射线衍射分析方法概述
    • 4.2 单晶X射线衍射方法
    • 4.3 粉末照相法
    • 4.4 X射线衍射仪法
    • 4.5 PPT视频课件
  • 5 X射线衍射法的用途
    • 5.1 X射线物相的定性和定量分析
    • 5.2 晶格常数测定
    • 5.3 纳米晶粒径的测定
    • 5.4 宏观应力测定
    • 5.5 PPT视频课件
  • 6 电子与物质的交互作用
    • 6.1 散射
    • 6.2 高能电子与样品物质交互作用产生的电子信息
    • 6.3 PPT视频课件
  • 7 透射电子显微分析
    • 7.1 透射电镜的结构及成像原理
    • 7.2 电子衍射
    • 7.3 透射电子显微分析样品制备
    • 7.4 薄晶体样品的衍衬成像原理
    • 7.5 PPT视频课件
  • 8 扫描电子显微分析
    • 8.1 扫描电镜工作原理、构造和性能
    • 8.2 扫描电镜在材料研究中的应用
    • 8.3 PPT视频课件
  • 9 电子探针X射线显微分析
    • 9.1 电子探针的结构
    • 9.2 X射线波长色散谱仪
    • 9.3 X射线能量色散谱仪
    • 9.4 波谱仪与能谱仪的比较
    • 9.5 电子探针的基本功能
    • 9.6 电子探针对试样的要求
    • 9.7 PPT视频课件
  • 10 扫描探针显微分析
    • 10.1 扫描探针显微镜的产生和历史
    • 10.2 扫描探针显微镜的基本原理
    • 10.3 扫描探针显微镜的应用
    • 10.4 PPT视频课件
  • 11 热分析技术
    • 11.1 概述
    • 11.2 热重法
    • 11.3 差热分析
    • 11.4 示差扫描量热法
    • 11.5 PPT视频课件
  • 12 红外光谱和激光拉曼光谱
    • 12.1 红外光谱的基本原理
    • 12.2 红外谱图的峰数、峰位与峰强
    • 12.3 红外光谱仪
    • 12.4 试样的处理和制备
    • 12.5 红外光谱在结构分析中的应用
    • 12.6 拉曼光谱
    • 12.7 红外和拉曼光谱的区别
    • 12.8 PPT视频课件
试样的处理和制备

要获得一张高质量红外光谱图,除了仪器本身的因素外,还必须有合适的样品制备方法。


一、红外光谱法对试样的要求


 红外光谱的试样可以是液体、固体或气体,一般应要求:


(1)试样应该是单一组份的纯物质,纯度应>98%或符合商业规格,才便于与纯物质的标准光谱进行对照。多组份试样应在测定前尽量预先用分馏、萃取、重结晶或色谱法进行分离提纯,否则各组份光谱相互重叠,难于判断。

(2)试样中不应含有游离水。水本身有红外吸收,会严重干扰样品谱,而且会侵蚀吸收池的盐窗。


(3)试样的浓度和测试厚度应选择适当,以使光谱图中的大多数吸收峰的透射比处于10%~80%范围内。


二、制样的方法


1 .气体样品

  气态样品 可在玻璃气槽内进行测定,它的两端粘有红外透光的NaClKBr窗片。先将气槽抽真空,再将试样注入。

2 .  液体和溶液试样


(1)液体池法


  沸点较低,挥发性较大的试样,可注入封闭液体池中,液层厚度一般为0.01~1mm


(2)液膜法


  沸点较高的试样,直接滴在两片盐片之间,形成液膜。


   对于一些吸收很强的液体,当用调整厚度的方法仍然得不到满意的谱图时,可用适当的溶剂配成稀溶液进行测定。一些固体也可以溶液的形式进行测定。常用的红外光谱溶剂应在所测光谱区内本身没有强烈的吸收,不侵蚀盐窗,对试样没有强烈的溶剂化效应等。


3 . 固体试样


(1)压片法


      将1~2mg试样与200mgKBr研细均匀,置于模具中,用(5~10)´107Pa压力在油压机上压成透明薄片,即可用于测定。试样和KBr都应经干燥处理,研磨到粒度小于2微米,以免散射光影响

2)石蜡糊法

    将干燥处理后的试样研细,与液体石蜡或全氟代烃混合,调成糊状,夹在盐片中测定。

(3)薄膜法

    主要用于高分子化合物的测定。可将它们直接加热熔融后涂制或压制成膜。也可将试样溶解在低沸点的易挥发溶剂中,涂在盐片上,待溶剂挥发后成膜测定。

   当样品量特别少或样品面积特别小时,采用光束聚光器,并配有微量液体池、微量固体池和微量气体池,采用全反射系统或用带有卤化碱透镜的反射系统进行测量