目录

  • 1 绪论
    • 1.1 绪论
    • 1.2 PPT视频课件
  • 2 X射线物理学基础
    • 2.1 X射线的本质
    • 2.2 X射线的产生
    • 2.3 X射线谱
    • 2.4 X射线与物质相互作用
    • 2.5 X射线的防护
    • 2.6 PPT视频课件
  • 3 X射线在晶体中的衍射
    • 3.1 X射线衍射的概念
    • 3.2 X射线衍射的条件和方向
    • 3.3 PPT视频课件
  • 4 X射线衍射方法
    • 4.1 X射线衍射分析方法概述
    • 4.2 单晶X射线衍射方法
    • 4.3 粉末照相法
    • 4.4 X射线衍射仪法
    • 4.5 PPT视频课件
  • 5 X射线衍射法的用途
    • 5.1 X射线物相的定性和定量分析
    • 5.2 晶格常数测定
    • 5.3 纳米晶粒径的测定
    • 5.4 宏观应力测定
    • 5.5 PPT视频课件
  • 6 电子与物质的交互作用
    • 6.1 散射
    • 6.2 高能电子与样品物质交互作用产生的电子信息
    • 6.3 PPT视频课件
  • 7 透射电子显微分析
    • 7.1 透射电镜的结构及成像原理
    • 7.2 电子衍射
    • 7.3 透射电子显微分析样品制备
    • 7.4 薄晶体样品的衍衬成像原理
    • 7.5 PPT视频课件
  • 8 扫描电子显微分析
    • 8.1 扫描电镜工作原理、构造和性能
    • 8.2 扫描电镜在材料研究中的应用
    • 8.3 PPT视频课件
  • 9 电子探针X射线显微分析
    • 9.1 电子探针的结构
    • 9.2 X射线波长色散谱仪
    • 9.3 X射线能量色散谱仪
    • 9.4 波谱仪与能谱仪的比较
    • 9.5 电子探针的基本功能
    • 9.6 电子探针对试样的要求
    • 9.7 PPT视频课件
  • 10 扫描探针显微分析
    • 10.1 扫描探针显微镜的产生和历史
    • 10.2 扫描探针显微镜的基本原理
    • 10.3 扫描探针显微镜的应用
    • 10.4 PPT视频课件
  • 11 热分析技术
    • 11.1 概述
    • 11.2 热重法
    • 11.3 差热分析
    • 11.4 示差扫描量热法
    • 11.5 PPT视频课件
  • 12 红外光谱和激光拉曼光谱
    • 12.1 红外光谱的基本原理
    • 12.2 红外谱图的峰数、峰位与峰强
    • 12.3 红外光谱仪
    • 12.4 试样的处理和制备
    • 12.5 红外光谱在结构分析中的应用
    • 12.6 拉曼光谱
    • 12.7 红外和拉曼光谱的区别
    • 12.8 PPT视频课件
X射线能量色散谱仪


                                      X射线能量色散谱仪

X射线能量色散谱仪(简称能谱仪)是根据X射线的能量不同X射线进行展谱分析的仪器,其作用是不同能量的X射线分开,并测定记录各种X射线的能量强度

利用能谱仪可以得到试样的X射线能谱图。它能反映试样发射的X射线的能量与强度的关系

各种元素的特征X射线既然具有特定的波长,那么它也必然具有特定的能量。因此,根据试样的X射线能谱图同样可以对试样的微区化学成分进行定性和定量分析

(一)能谱仪的结构

能谱仪主要由Si(Li)探测器前置放大器脉冲信号处理单元模数转换器多道脉冲分析器计算机显示记录系统等部分组成(见下图)


        

(二)能谱仪的工作原理

由聚焦电子束激发产生的具有不同能量的X射线经Be窗口射入Si(Li)探测器,使Si原子电离,产生电子-空穴对。由于每产生一个电子-空穴对需要清耗3.8eV的能量。因此,一个能量为E的入射X光子将产生N=E/3.8)个电子-空穴对,根据X光子激发的电子-空穴对的数量N,即可求得入射X光子的能量E

SiLi)半导体的两端加一个偏压,将电子-空穴对收集起来。每入射一个X光子,探测器将输出一个电流脉冲,脉冲的高度与X光子的能量成正比。电流脉冲由脉冲信号处理单元和模数转换器转换成电压脉冲,然后送入多道脉冲分析器。多道脉冲分析器将电压脉冲按脉冲高度进行分类,让不同高度的脉冲进入不同的通道,并记录进入各个通道的脉冲数。通道的地址反映了X光子的能量,通道的脉冲数则代表了X射线的强度。最后得到以通道地址(能量)为横坐标,以通道脉冲计数(强度)为纵坐标的X射线能量色散谱图,并显示在显像管荧光屏上。

X射线能谱图上,峰位表示X射线的能量,峰高则反映X射线的强度。根据能谱图上的峰位(特征X射线的能量)可以检测出试样中存在何种元素,即进行化学成分定性分析。根据峰的高度(特征X射线的强度)可对试样中的元素进行定量半定量分析。