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1 绪论
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2 X射线物理学基础
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2.1 X射线的本质
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2.2 X射线的产生
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2.3 X射线谱
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2.4 X射线与物质相互作用
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2.5 X射线的防护
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2.6 PPT视频课件
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3 X射线在晶体中的衍射
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3.1 X射线衍射的概念
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3.2 X射线衍射的条件和方向
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3.3 PPT视频课件
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4 X射线衍射方法
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4.1 X射线衍射分析方法概述
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4.2 单晶X射线衍射方法
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4.3 粉末照相法
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4.4 X射线衍射仪法
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4.5 PPT视频课件
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5 X射线衍射法的用途
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5.1 X射线物相的定性和定量分析
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5.2 晶格常数测定
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5.3 纳米晶粒径的测定
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5.4 宏观应力测定
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5.5 PPT视频课件
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6 电子与物质的交互作用
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6.1 散射
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6.2 高能电子与样品物质交互作用产生的电子信息
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6.3 PPT视频课件
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7 透射电子显微分析
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7.1 透射电镜的结构及成像原理
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7.2 电子衍射
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7.3 透射电子显微分析样品制备
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7.4 薄晶体样品的衍衬成像原理
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7.5 PPT视频课件
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8 扫描电子显微分析
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8.1 扫描电镜工作原理、构造和性能
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8.2 扫描电镜在材料研究中的应用
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8.3 PPT视频课件
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9 电子探针X射线显微分析
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9.1 电子探针的结构
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9.2 X射线波长色散谱仪
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9.3 X射线能量色散谱仪
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9.4 波谱仪与能谱仪的比较
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9.5 电子探针的基本功能
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9.6 电子探针对试样的要求
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9.7 PPT视频课件
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10 扫描探针显微分析
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10.1 扫描探针显微镜的产生和历史
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10.2 扫描探针显微镜的基本原理
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10.3 扫描探针显微镜的应用
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10.4 PPT视频课件
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11 热分析技术
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11.1 概述
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11.2 热重法
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11.3 差热分析
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11.4 示差扫描量热法
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11.5 PPT视频课件
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12 红外光谱和激光拉曼光谱
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12.1 红外光谱的基本原理
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12.2 红外谱图的峰数、峰位与峰强
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12.3 红外光谱仪
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12.4 试样的处理和制备
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12.5 红外光谱在结构分析中的应用
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12.6 拉曼光谱
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12.7 红外和拉曼光谱的区别
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12.8 PPT视频课件
各种物理信号的产生深度和广度范围（书P71）
各种物理信号的产生深度、广度、用途和分辨率
| 物理信号 | 产生深度 | 产生广度 | 用 途 | 分辨率 | 仪 器 |
| 俄歇电子 | ＜10Å | 等于电子束作用面积 | 表面形貌和成份像 | 10~100 Å | 俄歇电子谱仪 |
| 二次电子 | ＜100 Å | 约等于电子束 | 形貌像、结构像 | 30~100 Å | 扫描电镜 |
| 背散射电子 | 较大 | 大于电子束 | 形貌像、成份像 | 50~2000 Å | 扫描电镜、电子探针 |
| 吸收电子 | 电子穿透深度 | 大于电子束 | 形貌像、成份像 | 1000~10000 Å | 扫描电镜 |
| 透射电子 |
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| 形貌像、结构像 | 1.4~100 Å | 透射电镜 |
| 特征X射线 | 略小于电子穿透深度 | 大于电子束 | 元素定量、定性分析、元素面分布像 |
| 电子探针 |
| 阴极荧光 | 大于电子穿透深度 | 远大于电子束 | 晶体缺陷、杂质元素分布像、晶体发光 | 3000~10000 Å | 扫描电镜、电子探针 |
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